产品型号：DE078-JF-8.85L
所属分类：双头探针
产品介绍：探针外径为0.78mm，总长度为8.85mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
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射频探针在射频产品的生命周期中每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，到模型参数提取，再到设计验证及调试一直到最后的小规模生产测试和最终的生产测试。通过使用射频探针，人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。华荣华测试探针工厂的工程师在射频探针技术上取得了突破。确定了射频探针的基本要求和工作原理：1） 探针的50-Ω平面传输线应当直接与DUT压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面探针设计，探针的接触是用小的金属球来实现的，这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。 2） 为了能同时接触到DUT的信号压点和接地压点，需要将探针倾斜。这个过程被称为“探针的平面化”。 3） 探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行探针极尖和在片标准及专用校准方法的开发。 4）具有很高重复性的接
2019-11-25
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