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LW137/LT137

LW137/LT137

产品名称:LW137/LT137
所属分类:线束测试探针
针头:SK4镀金,铍铜镀金
针管:黄铜镀金
弹簧:SWP 镀金
额定电流:3A
额定电阻:50毫欧姆
满行程:4.40mm
工作行程:3.50mm
工作行程弹力:100/150/230/300gf(1N/1.5N/2.3N/3N)
产品优势:产品定位精度高、产品过载稳定、产品测试误判率低
产品介绍:本产品一般用有定向作用的结束测试用,产品选用日本SK4 弹簧选用的是琴钢线。工厂选用的材质都是比较硬的,有利于在测试的时候过大电流不会容易损坏。
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半导体测试设备之探针测试主要趋势

探针测试行业发展趋势(1)设备将向高精度化方向发展现阶段半导体器件主要通过提高集成度的方式实现更多功能或更快响应。为此,半导体制造过程一般会缩小器件特征尺寸,如高端逻辑芯片的电路制程线宽已由微米级别缩小至纳米级别,最小已达3纳米;在光电芯片中,最小的Micro LED尺寸也已经缩小至50μm以下。此外,为避免器件集成度提高后单位制造成本过度上涨,业界一般使用更大尺寸的晶圆,通过在单片晶圆片上制造更多的芯片并提高边缘区域使用率的方法降低单位制造成本,目前主流晶圆尺寸已从4英寸、6英寸,逐步发展到8英寸和12英寸。

2022-05-30

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