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在PCB测试、ICT/FCT治具、芯片探针测试生产过程中，探针烧针、针尖发黑、针轴熔断、批量探针报废是高频高发故障。很多团队会误以为是探针质量差、电流参数异常或设备故障，反复更换探针、调整电流参数，却始终无法根治问题。
2026-09-18 http://www.szhrh.com/Article/ceshitanzhenpinfansh.html
在PCB测试、IC烧录、芯片探针测试、工装测试等场景中，绝大多数测试工程师都存在一个根深蒂固的认知误区：探针弹力越大，接触越牢靠，测试稳定性就越高。
2026-09-07 http://www.szhrh.com/Article/danliyuedaceshiyuewe.html
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