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ICT 探针、BGA 双头探针等不同类型的适用场景区分

标签:夹片探针 ICT顶针 ICT探针 探针

一、核心探针类型:特性与适用场景核心区分

(一)ICT探针:在线测试的“通用主力”

ICT探针全称为在线电路测试探针,是电子制造业中应用最广泛的基础探针类型之一,主要用于PCB板组装元器件后的在线电路测试(ICT测试)与功能测试(FCT测试),核心作用是检测制成板上元器件的电气性能和电路网络的连接情况,定量排查虚焊、连锡、元器件失效等问题。


从结构特性来看,ICT探针通常配备高性能弹簧,使用寿命可达3万~10万次,表面镀金处理确保低接触电阻与良好导电性;直径规格覆盖较广,常见范围为1.27mm~2.54mm(行业标准称呼50mil~100mil),也有特殊定制的细径型号(最小直径0.19mm),适配不同间距的测试点需求。其头部设计多样,包括伞头、圆锥头、钻头等,适配不同测试环境:伞头型接触面积大、稳定性强,适合高密度电路板的稳定接触;圆锥头与钻头型穿透力强,可应对表面氧化或轻微污染的焊点。

适用场景可精准定位为:消费电子(手机、电脑、智能穿戴设备)主板量产测试、工业控制板电气性能检测、汽车电子基础电路排查等批量生产环节。尤其在自动化测试平台中,ICT探针凭借“通用性强、稳定性高、易更换”的优势,成为量产质量把控的核心工具。例如,在手机主板量产线中,数百枚ICT探针组成测试矩阵,可同时检测CPU、内存、射频模块等核心部件的电路连接状态,支撑百万级量产规模的高效筛查。需要注意的是,标准ICT探针对精密微小测试点的适配性较弱,不适合半导体晶圆等高端精密测试场景。
其他常见探针类型:场景互补与延伸

除上述两类核心探针外,探针还有多个“细分门派”,各自填补特定场景的测试需求,与ICT探针、BGA双头探针形成互补:

1.大电流探针:大电流探针最大测试电流可达200A,适配高温高电流测试环境,适用场景:新能源汽车电池管理系统测试、工业电源模块高负载检测、电机驱动板电流性能验证等。其弹簧结构具备强回弹力,可应对频繁插拔的高负载测试需求,但体积较大,无法适配高密度电路板。

2.射频探针:分为带屏蔽圈(测试10GHz以内)和无屏蔽圈(测试500MHz以内)两种类型,核心优势是信号衰减少、抗干扰能力强。适用场景:高频RF模块测试、微波芯片检测、高速数字电路板信号分析,如WiFi天线、蓝牙模块等高频器件的性能测试
3.开尔文探针:专门用于微小电阻值测试,可精准测量低电阻元器件的性能参数,适用场景:精密电阻、传感器、半导体材料的电阻特性检测,填补了普通探针在低电阻测试领域的精度空白。
4.PCB探针:高频性能优异,主要用于未焊接元件的空PCB板测试,是PCB板出厂前开路、短路检测的专用工具,在蓝牙、WiFi等高频电路的光板测试中表现突出。

选型核心逻辑:场景匹配优先,参数精准适配

综合各类探针的特性与场景可知,探针选型的核心逻辑可总结为“三看”:一看测试对象,是PCB成品板、半导体晶圆还是精密芯片,决定探针的尺寸与精度等级;二看测试需求,是批量电路排查、高频信号测试还是大电流验证,决定探针的性能参数;三看测试环境,是自动化量产线、实验室精密测试还是高温高负载场景,决定探针的结构与材质.

例如,批量生产的PCB板测试优先选ICT探针;BGA封装芯片、高频半导体测试必选BGA双头探针;高电流场景适配大电流探针;高频信号测试则锁定射频探针。选对探针不仅能提升测试效率,更能减少被测器件损坏,降低返修成本——这也是“小小探针”能成为电子制造质量保障“隐形盟主”的核心原因。

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