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测试探针是一种用于电子测试中接触被测对象（如电路板、芯片引脚等）的精密电子元件，主要作用是传导电信号，实现对电子器件性能、电路连通性等的检测。
测试探针的组成
针头：与被测对象直接接触，通常采用耐磨、导电性能好的材料，形状根据测试需求设计（如尖针、圆头针、铲形针等）。
针管：用于固定针头和弹簧，一般由黄铜等导电材料制成，表面常做镀金处理以增强导电性和抗腐蚀性。
弹簧：提供接触压力，确保针头与被测对象稳定接触，材料多为不锈钢，其弹力大小需根据测试场景调整。
测试探针的分类
按用途：可分为PCB测试探针、半导体测试探针、汽车电子测试探针等，分别适用于电路板、芯片、汽车电子元件等的测试。
按结构：有直探针、弯探针、伸缩探针等，不同结构适应不同的测试空间和接触角度要求。
按性能：可分为高频探针、高压探针、大电流探针等，满足不同信号传输和测试条件的需求。
测试探针的应用领域
电子制造业：在电路板生产过程中，用于检测线路的导通性、短路情况等；在芯片封装测试中，接触芯片引脚以检测其电气性能。
科研实验室：用于电子元器件的性能测试和研发实验，帮助研究人员获取准确的电信号数据。
汽车电子：对汽车中的各类电子模块（如发动机控制模块、车载娱乐系统等）进行测试，确保其工作正常。
测试探针的重要性
测试探针是电子测试环节中不可或缺的关键部件，其性能（如导电性、耐磨性、接触稳定性等）直接影响测试结果的准确性和可靠性。高质量的测试探针能提高测试效率，降低误判率，从而保证电子产品的质量。
