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华荣华弹簧探针是干什么用的呢?

标签:弹簧针 PCB测试探针 测试探针

什么是测试探针?

测试探针(Test probe),是精密电测试过程中必不可少的部件。在电子电路研发和生产的过程中,经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析,使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的ICT或者测试系统进行整合分析,测试探针质量的好坏,很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。


在PCBA测试环节,通常会制作专门的测试治具(test jig),这些治具会安装有探针,用来与PCBA测试点进行接触。通过这种方式,可以测试出PCBA的性能参数,包括但不限于连接器的接触电阻、绝缘电阻、耐压性能等。

探针是如何组成?

探针是由针头、针管及弹簧3个基本结构组成的测试针,用于检测线路板中的各类电子元器件。


 探针的弹力是不是越大越好?

根据经验可以看到,弹簧力应该尽可能低,这样才能够让负荷尽可能少;但弹簧力同时也要足够高,以确保良好的电接触,弹簧力不足又会引起接触不良等;因此需要弹簧力,针头形状、测试环境等因素来考虑。

推荐使用:一般扎针测试可以用2N以上,界面针很多且常压接触的可以用1.5N左右;有时候也看客户是否有要求;


探针的种类
ICT在线测试针主要应用于在线电路测试和功能测试,也称ICT和FCT测试,也是目前应用较多的一种探针。
高频针用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈。

大电流探针用于很多使用高电流的行业和应用;应用用途是精确测量,针对该用途要用内电阻很低的测试探针。

双头针用于BGA测试使用,比较紧密,做工要求比较高,一般检测手机IC芯片、笔记本电脑IC芯片、平板电脑以及通讯IC芯片等等,针身直径在于0.25MM~0.58MM之间。

开关探针单独一支探针有 两路电流,控制电路的常开常闭功能。

界面针主要用于测试机台与测试夹具的接触点和面,附图右边即为界面,用于将信号进行无线转接。

晶元测试中高温对测试探针机械性能的影响

晶元测试中高温对测试探针机械性能的影响

       随着半导体测试技术的不断发展,高温晶元测试已经逐渐成为主流,并且测试温度逐年升高。在不断改良硬件设施的性能外,如何通过持续改进工艺制程和参数来更好的保证高温晶元测试的稳定性和安全性尤为重要  在晶元测试过程中探针卡的探针需要与晶元芯片表面PAD良好接触以建立起测试机到芯片的电流通路。接触的深度需要被控制在微米级,按照晶元层结构设计不同,通常在0.5微米到1.5微米之间较适宜。过浅会造成接触不良导致测试结果不稳定,过深则会有潜在的破坏底层电路的风险。而最直接影响接触深度的物理量就是OD(Over-Drive)。与室温测试相比,由于整套测试硬件在高温环境下会发生热膨胀,且在测试过程中会表现出与热源距离相关的持续波动性,要保证高温测试的稳定安全,需要一套特殊的工艺

2021-02-05

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