欢迎来到华荣华电子官方网站.

测试探针实力生产厂家

提供优质测试探针批发和定制

全国服务热线 400-183-6682 138-2745-5688
返回列表页

晶元测试中高温对测试探针机械性能的影响

标签:

       随着半导体测试技术的不断发展,高温晶元测试已经逐渐成为主流,并且测试温度逐年升高。在不断改良硬件设施的性能外,如何通过持续改进工艺制程和参数来更好的保证高温晶元测试的稳定性和安全性尤为重要


  在晶元测试过程中探针卡的探针需要与晶元芯片表面PAD良好接触以建立起测试机到芯片的电流通路。接触的深度需要被控制在微米级,按照晶元层结构设计不同,通常在0.5微米到1.5微米之间较适宜。过浅会造成接触不良导致测试结果不稳定,过深则会有潜在的破坏底层电路的风险。而最直接影响接触深度的物理量就是OD(Over-Drive)。与室温测试相比,由于整套测试硬件在高温环境下会发生热膨胀,且在测试过程中会表现出与热源距离相关的持续波动性,要保证高温测试的稳定安全,需要一套特殊的工艺流程来维持OD的相对稳定性。


      在探针卡的初始设计过程中必须考虑后期需要工作的温度范围。从PCB以及各种配件的材质选择、元器件的耐温性能、探针位置的预偏移量分析设计等多方面入手,尽量从源头降低高温对探针卡的形变影响。


  高温生产过程中的工艺控制也是减小测试影响的最重要的环节。一般通过预烤针和动态烤针、对针两方面的操作来降低高温对测试的影响。

QQ图片20200318144213.png

如何延长测试探针的测试寿命

如何延长测试探针的测试寿命

   为了让华荣华和加工测试的商家人们生意做的更好,我们的工程给公司的全员讲解了关于一些不测试探针产品的知识,由什么是测试探针,测试探针的作用介绍,金和镍含量的多少决定着测试探针的抗氧化能力的高低,从而使测试探针耐腐蚀性能获得极大改善。之后还总结了以下6个问题的解答。1.测试用的PCB顶针在什么条件下容易生锈?2.你们的测试探针为什么用吸铁石可以吸住呢?是不是掺料啊?3.同种规格的测试探针用什么头型的合适呢?4.测试探针的测试时需要注意事项5.测试探针如何选用?6.测试探针收到之后如何做的保养措施  深圳市华荣华电子科技有限公司是一家是集研发、生产、销售于一体的测试探针厂家,,专业生产高频测试探针,大电流探针,pcb顶针,免费客服热线:400-183-6682。

2020-07-30

返回顶部