探针在使用过程中如何判断是否需要更换？

判断测试探针是否需要更换，核心围绕接触性能、物理状态、测试数据异常三个维度，结合外观检查和功能验证即可明确，具体判断要点如下：

一、外观直观检查（最易操作，优先排查）

1：针头部：查看是否有明显磨损、变形、镀层脱落（如镀金层起皮、露底）、氧化发黑 / 生锈，或针尖出现毛刺、塌陷、开裂；若针头部与被测点接触的核心区域有上述任一情况，说明接触面积和导电性已受影响，需更换。

2：针杆 / 弹簧：观察针杆是否弯曲、卡顿（按压后无法顺畅回弹），弹簧是否松弛、断裂或生锈；针杆卡顿会导致接触压力不足，弹簧失效则无法保证稳定接触，均需更换。

3：针套 / 焊接端：检查针套内壁是否有积尘、氧化导致的卡滞，焊接端是否松动、脱焊或氧化；针套卡滞会影响探针伸缩，焊接端异常则直接导致信号中断，需更换。

二、功能性能验证（核心判断依据）

1：接触电阻测试：用万用表或专用测试设备测量探针接触时的电阻值，若电阻值远超厂商标定范围（普通探针正常接触电阻通常＜50mΩ，高频探针要求＜10mΩ），或同一批次探针电阻值波动超过 20%，说明探针接触不良，需更换。

2：导通稳定性测试：连续多次（建议 50-100 次）按压探针接触标准测试点，若出现偶发断通、信号闪烁，或测试设备提示 “接触失败”“信号丢失”，即使外观无明显异常，也需更换。

3：测试良率关联：若同一测试工位无其他调整（如治具、被测件、测试参数未变），但测试良率持续下降（如单次下降≥5%，或连续几小时良率低于标准值），排查后确认是探针问题导致，需立即更换。

三、特殊场景补充判断

1：高频 / 高精度测试：若探针用于射频、微小间距（＜0.3mm）器件测试，即使未达到常规更换周期，只要出现信号衰减（如射频功率损耗增加＞1dB）、阻抗不匹配，或测试数据重复性差（偏差＞±0.5%），需更换。

2：恶劣环境使用：在高温、高湿、粉尘或腐蚀性气体环境下，若探针使用后出现表面结垢、伸缩阻力增大，即使功能暂时正常，也建议提前更换，避免隐性接触问题。