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» 测试探针的头部发黑是什么原因呢？
测试探针的头部发黑可能是由于以下原因导致的：
1. 氧化：测试探针的头部可能会因为长时间暴露在空气中而发生氧化反应，导致表面出现黑色氧化物，这种情况通常发生在金属探针上。
2. 污染：测试探针的头部可能会被污染物覆盖，例如灰尘、污染物，这些污染物可能会导致探针头部变黑。
3. 高温：如果测试探针在高温环境下使用或存储，其头部可能会因为热膨胀而变形，导致表面出现黑色痕迹。
4. 磨损：长期使用测试探针可能会导致其头部磨损，从而产生黑色痕迹。
5. 质量问题：如果测试探针的质量不好，例如材料不均匀或者制造过程中存在缺陷，也可能导致其头部变黑。
6.电流：是否电流过大造成的
深圳市华荣华电子科技有限公司秉承“诚实守信 ，携手共赢，以客户需求为导向，坚持做价格厚道的好产品”为企业文化；将质量视为企业的生命。始终坚持“以质量为根本，坚持做价格厚道的好产品”的经营使命；不断满足市场需求，与广大客户携手合作，诚实守信 ，携手共赢，坚持以客户需求为导向，共创美好未来！
测试探针按结构如何分类？从结构来看，常见的探针类型主要包括弹性探针、悬臂式探针和垂直式探针。 弹性探针 弹性探针由螺旋弹簧两端套接在上下柱栓上，螺旋弹簧中间部分紧密缠绕(防止高频信号产生附加电感和附件电阻)，两端部分稀疏缠绕(可形变减少弹簧刚度对测试件的压强)，检测集成电路时，信号从下柱栓向上形成导电路径。 悬臂式探针 悬臂式探针为借由横向悬臂提供探针针部在接触待测半导体产品时适当的纵向位移，以避免探针针部施加于待测半导体产品的针压过大。 垂直式探针 垂直式探针可对应高密度信号接点的待测半导体产品的细间距排列，并借由针体本身的弹性变形提供针尖在接触待测半导体产品所需的纵向位移。 深圳市华荣华电子科技有限公司经多年发展，已经稳步成为国内测试探针集研发、生产销售于一体的专业公司。华荣华现有员工10
2024-04-10
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