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华荣华电子——2020劳动节放假通知

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尊敬的新老客户:

      你们好!



      2020年劳动节即将到来,华荣华全体人员祝大万事顺意,阖家安康!关于2020劳动节放假时间,我司作出以下安排:


2020年5月1日 — 2020年五月3日放假三天,共计三天。


五月四日正常上班营业。



       放假期间,我司不能及时的安排发货,请各位新老客户提前做好节前后的采购计划,预留备货及运输时间,以便我司及时安排订货及出货,避免给贵公司的生产造成影响。如有不便之处,敬请谅解!战“疫”仍在进行,不可掉以轻心。减少人群聚集,防止交叉感染,保护好自身的生命与健康安全!


华荣华劳动节放假通知


华荣华电子科技有限公司经营:PCB探针、ICT测试针、BGA双头针、非标探针、pogo pin、5G高频探针、射频探针、大电流探针、开关探针、夹片探针、及各种测试配件;及供应:德国INGUN探针、美国QA探针、台湾CCP探针和CPM探针、及PGOGPIN探针。产品主要应用于各类电子产品的测试及PCB线路板的测试。


如果想了解更多关于更多探针的原理及作用,可拨打我们全国免费电话:400-183-6682



店铺地址:深圳市福田区华强电子世界三号楼一楼BO47柜

公司地址:深圳市福田区华强花园B座16B

工厂地址:东莞市塘厦镇平沿塘路6号


晶元测试中高温对测试探针机械性能的影响

晶元测试中高温对测试探针机械性能的影响

       随着半导体测试技术的不断发展,高温晶元测试已经逐渐成为主流,并且测试温度逐年升高。在不断改良硬件设施的性能外,如何通过持续改进工艺制程和参数来更好的保证高温晶元测试的稳定性和安全性尤为重要  在晶元测试过程中探针卡的探针需要与晶元芯片表面PAD良好接触以建立起测试机到芯片的电流通路。接触的深度需要被控制在微米级,按照晶元层结构设计不同,通常在0.5微米到1.5微米之间较适宜。过浅会造成接触不良导致测试结果不稳定,过深则会有潜在的破坏底层电路的风险。而最直接影响接触深度的物理量就是OD(Over-Drive)。与室温测试相比,由于整套测试硬件在高温环境下会发生热膨胀,且在测试过程中会表现出与热源距离相关的持续波动性,要保证高温测试的稳定安全,需要一套特殊的工艺

2021-02-05

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