测试探针的尺寸怎么对应选择的弹力呢？

测试探针尺寸与弹力的对应选择
弹力选择的基本依据
测试探针弹力的选择主要依据待测物总的承受力，一般针板上探针的总弹力要小于待测物的可承受形变力。

尺寸对弹力需求的影响
不同尺寸的测试探针在实际应用中对弹力有不同要求，较小尺寸的探针通常用于测试尺寸微小的待测物，如芯片等，这类待测物可承受的压力较小，因此需要较低的弹力，以避免对其造成损坏，而较大尺寸的探针可能用于测试一些相对较大且结构坚固的待测物，可承受的压力较大。
尺寸与头型及接触稳定性。

探针尺寸与头型相结合，能影响弹力保证安全可靠接触的效果，较小尺寸的探针可能搭配更精细的头型，如用于测试高密度电路板上很小接触点的尖锐探针，这种情况下需要合适的弹力确保其准确接触到测试点，同时避免对 PCB 造成不必要的压力。而较大尺寸的探针，头型可能相对较大，弹力的选择也需要考虑头型与待测物的接触面积和稳定性。

弹力选择的规则
弹力选择的基本规则是“恰到好处尽可能低，有必要的高”。即在满足测试需求，保证良好电接触的前提下，应尽量降低弹力，以减少对测试样的负荷，同时，弹力也要足够高，以确保探针与待测物之间形成稳定可靠的电连接，此外，还需要考虑形状、测试环境等因素，综合这些因素才能为不同尺寸的测试探针选择出正确的弹力。