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不同测试场景对探针的性能和规格要求各异，以下是一些适合不同测试场景的探针型号推荐：
PCB在线测试（ICT）：华荣华SP040探针，针身直径0.61mm，总长度35.9mm，额定电流2A，接触电阻30毫欧姆，适用于一般的在线测试场景；华荣华SP156探针，直径2.36mm，额定电流5A，接触电阻50毫欧姆，可用于对电流承载能力要求较高的PCB测试。
PCB功能测试（FCT）：INGUN标准弹簧探针，具有多种针头形状和连接方式，可满足不同的测试需求；INGUN E-Type?探针，具有较高的预紧力，能在测试过程中确保可靠触探，适用于脏污表面的触探。
半导体芯片测试：会芯半导体的悬臂探针卡，可支持单排最小40um pad管脚间距，超短悬臂设计可应用于3GHz@-3dB高速芯片测试，适用于小间距、键合焊线封装类芯片测试；3D MEMS微悬臂探针卡，如Takumi Probe Card，最小支持30umx30um的Pad尺寸，探针卡寿命超过100万次，适用于尖端半导体工艺节点和先进封装的小间距、高针数等复杂测试需求。
射频测试：会芯半导体的Membrane/pProbe射频探针卡，能够实现超过80GHz的测试频率，具有最小的划痕度和低电感值，可对从手机射频前端部件到汽车雷达芯片的任何射频应用进行全面测试。
大电流测试：华荣华SP189探针，直径3.16mm，额定电流5A，可用于需要承载较大电流的测试场景，如电源模块测试等。
