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常见测试探针的种类和特性

标签:半导体高频探针 开关探针 ICT弹簧针 ICT顶针 双头探针 大电流探针

测试针,用于测试线路板的一种常见的探针,表面镀金,内部有平均寿命3-10万次的琴钢线制作成的高性能弹簧,根据电子测试的用途可分为三种:

1、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

2、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品; 

3、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,有部分产品成功生产,可替代进口探针产品。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。  

悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

垂直探针:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探针 (ICT series Probes)  一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼:100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目前应用较多的一种探针。

2.界面探针(Interface Probes)  非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达和安捷伦。用于测试机台与测试夹具的接触点和面。

3.(MicroSeries Probes)  两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

4.开关探针(Switch Probes)  开关探针单独一支探针有两路电流。

5.高频探针(Coaxial Probes)  用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的。

6.旋转探针(Rotator Probes)  弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试。

7.高电流探针(High Current Probes)  探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps。  

8.半导体探针 (Semiconductor Probes)  直径一般在0.50mm-1.27mm之间。

9.电池探针 (Battery Contacts) 一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长。


测试探针头型简介表(一)

测试探针头型简介表(一)

探针是用来测试线路板的开路或短路的,在测试治具中,探针是一个媒介,探针放在针管里,探针头的接触待测物,另一端的套管引出线将信号传导出去,接收回来的信号在测试机里处理;也可以通过探针的测试来传输电流活电压来判断线路板的情况。在测量中探针头是主要的使用部位。探针的头型分为很多种,因为不同的测试点需要不同的头型;比如:梅花头的被测点是平片或凹状.......下面我给大家总结一下所有的探针头型的用法吧(一)杯头 ——主要用于接触接头,测试长导脚,端子及绕线柱尖头 ——主要用于接触焊盆,测试导脚、焊点及污染之PC板或穿刺污染层,刺透力一般。圆头 —— 一般用于接触焊盆、焊垫及金手指,确保不留牙印。圆锥头 —— 测试贯空孔,焊垫及金手指小四爪 —— 测试焊垫及金手指 ,适合细线测试,不沾灰尘及污染物梅花头 —— 测试长导脚

2019-05-12

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