一起来看看测试探针和探针针套的功能原理

测试探针和探针针套是电子测试领域中用于电路连接与信号传输的关键组件，二者配合工作，确保测试过程的稳定性、准确性和安全性。下面详细解析它们的功能原理：

一、测试探针的功能原理

测试探针（Test Probe）是直接与被测对象（如电路板焊点、芯片引脚等）接触的核心部件，主要功能是传导电信号或电流，实现对电路性能的检测（如电压、电流、电阻、信号完整性等）。

其核心原理基于导电接触与信号传导，具体可拆解为以下几点：

1. 接触传导

探针头部通常设计为尖状、球状或扁平状等，通过一定的压力（手动或机械驱动）与被测点（如焊点、引脚）紧密接触，形成物理导电通路。探针材质多为高导电性金属（如铜合金、镀金/镀镍合金），减少接触电阻，确保信号损耗最小。

2. 弹性缓冲

多数探针内部包含弹簧结构，当接触压力过大时，弹簧压缩缓冲，避免损坏被测件（如脆弱的芯片引脚）或探针本身，同时保证稳定的接触压力（接触电阻与压力相关，压力过小时接触电阻会增大）。

二、探针针套的功能原理
探针针套（Probe Socket/Holder）是固定和保护探针的辅助部件，其核心作用是定位、固定探针，并辅助探针与测试系统的连接，确保测试过程中探针的稳定性和可更换性。

具体原理如下：

1. 机械固定与定位

针套内部有匹配探针尺寸的孔洞或卡槽，将探针固定在特定位置（如测试治具的PCB板上），保证探针在测试时不会偏移，精准对准被测点（尤其是批量测试或自动化测试中，定位精度直接影响测试效率和准确性）。

2. 电气连接过渡

针套通常与测试治具的电路连接（如焊接在PCB上），探针插入针套后，通过针套内部的导电结构（如金属弹片、镀层）与治具电路导通，实现探针与测试系统的间接连接，避免探针直接焊接导致的更换困难。

三、二者的配合关系

探针与针套是“核心传导部件”与“辅助固定部件”的关系，共同实现稳定测试：

- 探针负责直接接触被测点并传导信号，依赖针套的固定来保证位置精准；

- 针套通过固定探针，确保其在重复测试（如自动化设备的多次插拔）中不会松动或偏移，同时通过过渡连接简化探针与测试系统的电气连接。