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半导体测试探针的的原理

标签:探针 测试探针

半导体测试探针的的原理

  半导体测试探针(高频探针)主要应用于BGA芯片测试,微型BGA原件,测试架,手机,电脑,通信等;其应用评率为500MHz,测试中所采用的针的数量根据具体的BGA IC 与其治具的规格不同而不同, 测试治具的间距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。

   半导体测试探针(高频针)主要应用行业如:手机、电脑、通信等。主要芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行,主要需求量最大需芯片封装测试行业。                                                                                                        

048系列测试探针规格型号

048系列测试探针规格型号

深圳市华荣华电子科技有限公司2006年在国际大都市——中国深圳成立,经多年发展已经稳步成为国内领先的PCB探针集研发、生产、销售于一体的 专业公司。 我们生产的测试探针被广泛应用在ICT、PCB、FPC等设备及电脑、电信、汽车、军事领域的测试和其他通讯产品上。除了PCB测试探针我们还有生产其他测试探针,如:夹片测试针、高频探针、电流针、pogo pin、充电针、大电流针、开关针、PCB测试针、BGA双头针、ICT测试针、弹簧测试针及精密五金件和各种标准与非标的消费五金件、汽车医疗配件、汽车配件、机械配件、医疗配件、电子配件;PCB制造商、高品质ICT测试针。产品主要应用于各类电子产品的测试。由于要不同大小的测试板需不同规格的测试针去满足测试,测试探针规格由最早的125min、100min、7

2019-12-16

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