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半导体测试探针的的原理

标签:探针 测试探针

半导体测试探针的的原理

  半导体测试探针(高频探针)主要应用于BGA芯片测试,微型BGA原件,测试架,手机,电脑,通信等;其应用评率为500MHz,测试中所采用的针的数量根据具体的BGA IC 与其治具的规格不同而不同, 测试治具的间距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。

   半导体测试探针(高频针)主要应用行业如:手机、电脑、通信等。主要芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行,主要需求量最大需芯片封装测试行业。                                                                                                        

华荣华测试探针进口铜管与国产铜管的区别

华荣华测试探针进口铜管与国产铜管的区别

下面让小编介绍探针的铜管,分析一下探针铜管的区别,进口探针铜管:针头铍铜+进口管(这款不管是尺寸大小都会接近进口产品的尺寸,硬度,针杆比较光滑,如果配套使用,用进口国产针套都可以使用,使用风险也不肯百分百不会出现隐裂问题,只是降低出现产品问题比较少)国产探针铜管:针头镀层Au0.3,针管Au0.05,另外针头材质是SK4,针管材质是黄铜。(这款目前我们工厂的尺寸会比原装的尺寸会有尺寸上的差异一点点,但是可以正常使用,如果配套使用,建议不要配进口针套使用,因为原装针套打点比较多,比较紧)产品的稳定性在于材质的导电稳定性。目前为止我们铜管的冶炼工艺还没有达到国外的水平。另外电镀工艺的水平也低于国外

2021-02-25

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