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半导体测试探针的的原理

标签:探针 测试探针

半导体测试探针的的原理

  半导体测试探针(高频探针)主要应用于BGA芯片测试,微型BGA原件,测试架,手机,电脑,通信等;其应用评率为500MHz,测试中所采用的针的数量根据具体的BGA IC 与其治具的规格不同而不同, 测试治具的间距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。

   半导体测试探针(高频针)主要应用行业如:手机、电脑、通信等。主要芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行,主要需求量最大需芯片封装测试行业。                                                                                                        

影响测试探针使用寿命因素

影响测试探针使用寿命因素

一直以来大家都是以测试探针的使用寿命来直接判断测试探针质量的好坏。下面来简单介绍下影响其使用寿命的因素有哪些?

2019-05-27

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