欢迎来到华荣华电子官方网站.

23年专注中高端测试探针生产

提供优质测试探针批发和定制

全国服务热线 400-183-6682 138-2745-5688

深圳市华荣华电子科技有限公司 您的位置: 首页 » BGA双头探针 » DP038双头探针

  • 双头探针DP038-JJ 5.7L

    双头探针DP038-JJ 5.7L

    产品型号:DP038-JJ-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • 双头探针DP038-FJ 5.7L

    双头探针DP038-FJ 5.7L

    产品型号:DP038-FJ-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头,圆头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • 双头探针DP038-BF-5.7L

    双头探针DP038-BF-5.7L

    产品型号:DP038-BF-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头,爪头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • 双头探针DP038-BB-5.7L

    双头探针DP038-BB-5.7L

    产品型号:DP038-BB-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP038-UU-5.7L双头探针

    DP038-UU-5.7L双头探针

    产品型号:DP038-UU-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品介绍:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP038-UB-5.7L双头探针

    DP038-UB-5.7L双头探针

    产品型号:DP038-UB-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品介绍:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头,尖头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP038-JB-5.7L双头探针

    DP038-JB-5.7L双头探针

    产品型号:DP038-JB-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品介绍:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头,尖头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP038-BU-5.7L 双头探针

    DP038-BU-5.7L 双头探针

    产品型号:DP038-BU-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.38mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为,尖头、 爪头
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

热点新闻

了解更多 +
探针为什么使用一段时间后电阻值增大?

探针为什么使用一段时间后电阻值增大?

探针使用一段时间后电阻值增大,主要有以下几方面原因:1. 氧化- 当探针与空气或其他氧化剂接触时,其表面可能会发生氧化反应。例如,金属探针在空气中长时间放置,会与氧气反应生成金属氧化物,这些氧化物的导电性通常比纯金属差,从而形成绝缘层或高电阻层,导致探针的电阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能较好的材料制成的探针,在长期使用过程中,也会逐渐吸附一定量的氧气或其他氧化性物质,进而改变其表面的化学组成和电阻率。2. 磨损- 在频繁使用或与其他物体接触、摩擦的过程中,探针的表面会逐渐磨损。磨损会破坏探针表面的完整性,使导电通路受损或变窄,增加电流通过时的阻力,导致电阻值上升。比如,用于测试电路板上焊点的探针,在多次接触焊点后,其尖端可能会磨损,从而使接触电阻增大。- 长期的磨损还可能导致探针表面的粗糙度增加,进一步影响

2025-03-11

返回顶部