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使用半导体测试探针有哪些优势?
半导体高频测试针简称“高频针”常用探针头型有:B、J、J1、U、U1、T等,其体积细小、测试精度要求较高,主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域
2025-12-22
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产品名称:PH-3A1
所属分类:PH系列探针
产品简介:PH系列探针、PH-3A、一体针、弹簧针、测试针、顶针
订购热线:400-183-6682
产品介绍(产品概述):针头:1.3mm,总长:36mm,直径1.77mm,开孔尺寸:1.8mm
产品名称:PH-2Q2
所属分类:PH系列探针
产品简介:PH系列探针、PH-2Q、一体针、弹簧针、测试针、顶针
订购热线:400-183-6682
产品介绍(产品概述):针头:1.5mm,总长:27.0mm,针身直径:1.27mm,开孔尺寸:1.35mm
产品名称:PH-2Q1
所属分类:PH系列探针
产品简介:PH系列探针、PH-2Q、一体针、弹簧针、测试针、顶针
订购热线:400-183-6682
产品介绍(产品概述):针头:0.98mm,总长:27mm,直径:1.27mm,开孔尺寸:1.35mm

半导体高频测试针简称“高频针”常用探针头型有:B、J、J1、U、U1、T等,其体积细小、测试精度要求较高,主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域
2025-12-22