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  • R160-2S (L11.5)

    R160-2S (L11.5)

    产品名称:R160-2S (L11.5)
    所属分类:测试针套
    产品简介:P160探针针套、1.67mm测试针套、总长11.50mm
    订购热线:400-183-6682

  • 双头探针DP100-XX-13.1L

    双头探针DP100-XX-13.1L

    产品型号:DP100-XX-13.1L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为1.0mm,总长度为13.10mm
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP021-XX-5.7L双头探针

    DP021-XX-5.7L双头探针

    产品型号:021-XX-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.21mm,总长度为5.7mm
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • DP020-XX-5.7L双头探针

    DP020-XX-5.7L双头探针

    产品型号:020-XX-5.7L
    所属分类:双头探针
    产品头型:探针外径为0.20mm,总长度为5.7mm
    产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
    主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
    热线电话:400-183-6682

  • 探针+3316探针组件(+)

    探针+3316探针组件(+)

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

  • 三针组(3-2.8)

    三针组(3-2.8)

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

  • SF-3A(两针组)上探针

    SF-3A(两针组)上探针

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

  • OCV探针组(2-5.0)

    OCV探针组(2-5.0)

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

  • 3针组3A(2.8-2.5)1200-1400g

    3针组3A(2.8-2.5)1200-1400g

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

  • 3针组(3-3.0)M12塑料件

    3针组(3-3.0)M12塑料件

    所属分类:3针组
    订购热线:400-183-6682
    材质:合金铜
    表面处理:镍底局部镀金
    技术参数:
    机械寿命: ≥30000 次
    工作温度: -40℃/+105℃

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