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工厂地址:东莞市塘厦镇沿塘路6号101室
产品型号:DP026-UJ-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型分为爪头、圆头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DP026-UB-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型分为爪头、尖头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DP026-JU-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型分为圆头、爪头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DP026-JJ-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型分为圆头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DP026-JB-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型分为圆头、尖头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:BGA085 1970S 所属分类:双头探针 产品介绍:探针外径为0.85mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:081-BB-142 所属分类:双头探针 产品介绍:探针外径为0.78mm,总长度为6.3mm、针的两端的头型为尖头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DP078-JB-8.8L 所属分类:双头探针 产品介绍:探针外径为0.78mm,总长度为8.8mm、针的两端的头型为圆头、尖头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DE078-JJ-8.8L 所属分类:双头探针 产品介绍:探针外径为0.78mm,总长度为8.8mm、针的两端的头型为圆头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:DE078-JF-8.8L 所属分类:双头探针 产品介绍:探针外径为0.78mm,总长度为8.8mm、针的两端的头型为圆头、爪头 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
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PAL75-B探针具有以下特点:1. 材质优良针管:采用磷铜管镀金,这种材质具有良好的导电性和耐腐蚀性,能够保证电流的稳定传输,同时防止针管在恶劣环境下生锈或被腐蚀。弹簧:使用不锈钢线制成,不锈钢具有较高的强度和韧性,使得弹簧能够提供稳定的弹力,确保探针与测试点之间的可靠接触,并且在长期使用过程中不易变形或损坏。套管:为黄铜管镀金,黄铜具有良好的导电性和导热性,镀金层则进一步提高了其抗氧化能力和导电性能,同时也增强了探针的美观度。针杆:有磷铜镀镍或铍铜(SK4)镀金两种材质选择。磷铜镀镍的针杆具有良好的耐磨性和导电性,而铍铜(SK4)镀金的针杆则具有更高的强度和硬度,能够更好地保持针杆的形状和尺寸稳定性,从而提高测试的准确性和可靠性。2. 电气性能良好低接触电阻:额定电流为3安培时,接触电阻仅为50毫欧姆,低接