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产品名称:R125-4W 所属分类:测试探针 产品简介:R125探针套外径为2.36mm ,环高7.5, 绕线套管 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:R125-4S 所属分类:测试探针 产品简介:R125探针套外径为2.36mm ,环高7.5, 总长24.7mm,焊接套管 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:R125-2S 所属分类:测试探针 产品简介:R125探针套外径为2.36mm ,环高2.5, 总长24.7mm,焊接套管 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-B L43 所属分类:测试探针 产品简介:尖头探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:R125-1S 所属分类:测试探针 产品简介:R125探针套外径为2.36mm ,环高2.5, 总长24.7mm,焊接套管 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-Q2、PA125-Q2、 所属分类:测试探针 产品简介:大四爪探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-Q1、PA125-Q1、 所属分类:测试探针 产品简介:直上四爪探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-LM2、PA125-LM2、 所属分类:测试探针 产品简介:钻石头探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-T、PA125--T、 所属分类:测试探针 产品简介:菱形头探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
产品名称:P125-J、PA125--J、 所属分类:测试探针 产品简介:直上圆头探针、2.0探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍(产品概述): 针管:黄铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸:2.4mm 额定电流:5安培 接触电阻:50毫欧姆 接触弹力:180g 订购热线:400-183-6682
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探针使用一段时间后电阻值增大,主要有以下几方面原因:1. 氧化- 当探针与空气或其他氧化剂接触时,其表面可能会发生氧化反应。例如,金属探针在空气中长时间放置,会与氧气反应生成金属氧化物,这些氧化物的导电性通常比纯金属差,从而形成绝缘层或高电阻层,导致探针的电阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能较好的材料制成的探针,在长期使用过程中,也会逐渐吸附一定量的氧气或其他氧化性物质,进而改变其表面的化学组成和电阻率。2. 磨损- 在频繁使用或与其他物体接触、摩擦的过程中,探针的表面会逐渐磨损。磨损会破坏探针表面的完整性,使导电通路受损或变窄,增加电流通过时的阻力,导致电阻值上升。比如,用于测试电路板上焊点的探针,在多次接触焊点后,其尖端可能会磨损,从而使接触电阻增大。- 长期的磨损还可能导致探针表面的粗糙度增加,进一步影响