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产品名称：P156-H、PA156-H 所属分类：测试探针 产品简介：梅花头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：P156-G、PA156-G 所属分类：测试探针 产品简介：平头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：P156-E、PA156-E 所属分类：测试探针 产品简介：圆锥头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：P156-D、PA156-D 所属分类：测试探针 产品简介：圆头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：P156-B、PA156-B 所属分类：测试探针 产品简介：尖头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：P156-A、PA156-A 所属分类：测试探针 产品简介：凹头探针、2.36探针、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：R156-4W 所属分类：测试套管 产品简介：2.69套管、总长：25mm，表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：R156-4S 所属分类：测试套管 产品简介：卡高7.5mm、2.69套管、总长：25mm、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：R156-3S 所属分类：测试套管 产品简介：2.69套管、表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
产品名称：R156-2S 所属分类：测试套管 产品简介：2.69套管、总长：25mm，表笔探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针 产品介绍（产品概述）: 针管:黄铜管镀金 弹簧：不锈钢线 套管：黄铜管镀金‘ 钻孔尺寸：2.75mm 额定电流：5安培 接触电阻：50毫欧姆 接触弹力：250g 订购热线：400-183-6682
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探针使用一段时间后电阻值增大，主要有以下几方面原因：1. 氧化- 当探针与空气或其他氧化剂接触时，其表面可能会发生氧化反应。例如，金属探针在空气中长时间放置，会与氧气反应生成金属氧化物，这些氧化物的导电性通常比纯金属差，从而形成绝缘层或高电阻层，导致探针的电阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能较好的材料制成的探针，在长期使用过程中，也会逐渐吸附一定量的氧气或其他氧化性物质，进而改变其表面的化学组成和电阻率。2. 磨损- 在频繁使用或与其他物体接触、摩擦的过程中，探针的表面会逐渐磨损。磨损会破坏探针表面的完整性，使导电通路受损或变窄，增加电流通过时的阻力，导致电阻值上升。比如，用于测试电路板上焊点的探针，在多次接触焊点后，其尖端可能会磨损，从而使接触电阻增大。- 长期的磨损还可能导致探针表面的粗糙度增加，进一步影响