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工厂地址:东莞市塘厦镇沿塘路6号101室
产品名称:LW100-J064 所属分类:测试探针 产品简介:LW100线束探针、1.0mm测试针、总长35.90mm、弹簧针、顶针、探针 产品介绍(产品概述): 额定电流:3A 额定电阻:50毫欧姆 满行程:6.00mm 工作行程:5.00mm 工作行程弹力:130/180gf (1.3N/1.8N) 订购热线:400-183-6682
产品名称:LW100-D070 所属分类:测试探针 产品简介:LW100线束探针、1.0mm测试针、总长35.90mm、弹簧针、顶针、探针 产品介绍(产品概述): 额定电流:3A 额定电阻:50毫欧姆 满行程:6.00mm 工作行程:5.00mm 工作行程弹力:130/180gf (1.3N/1.8N) 订购热线:400-183-6682
产品名称:PA160-X (L10.05) 所属分类:测试探针 产品简介:P160探针、1.36mm测试针、总长10.05mm、弹簧针 产品介绍(产品概述): 针管:磷铜管镀金 弹簧:不锈钢线 套管:黄铜管镀金 针杆:磷铜镀镍或铍铜 额定电流:3A 额定行程弹力:160g 接触电阻:50毫欧姆 订购热线:400-183-6682
产品名称:R160-2S (L11.5) 所属分类:测试针套 产品简介:P160探针针套、1.67mm测试针套、总长11.50mm 订购热线:400-183-6682
产品型号:DP100-XX-13.1L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为1.0mm,总长度为13.10mm 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:021-XX-5.7L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.21mm,总长度为5.7mm 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
产品型号:020-XX-11L 所属分类:双头探针 产品头型:探针外径为0.20mm,总长度为11mm 产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低 主要应用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket???? 主要应用行业:手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试,主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。 热线电话:400-183-6682
所属分类:3针组 订购热线:400-183-6682 材质:合金铜 表面处理:镍底局部镀金 技术参数: 机械寿命: ≥30000 次 工作温度: -40℃/+105℃
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以下是一些关于测试探针常见的问题:一、性能与准确性方面1. 测量不准确原因:探针的尖端可能会因磨损导致形状变化,进而影响与测试对象的接触面积和接触效果,使测量结果出现偏差;探针的尺寸和形状若与被测物不匹配,也会在不同表面上产生不同的测试值;材料的性质和制造工艺不佳,可能使探针在测试过程中表现不稳定;外界环境因素如温度、湿度、气压的变化,可能导致探针的材料性质改变或影响其与测试样品的接触,造成测试误差。解决方法:定期检查和更换探针,确保其尖端的完整性和准确性;根据被测物的特性选择合适的探针尺寸和形状,并在测试前对实验样品进行适当调整以适应探针特性;选择高质量的探针材料和先进的制造工艺,提高探针的稳定性和可靠性;控制测试环境的温度、湿度等条件,减少外界环境对测试结果的影响。2. 重复性差原因:除了上述影响测量准确性