[P50探针系列]测试探针P50-F

产品名称：P50-F、PA50-F
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）:
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
针杆：铍铜或SK4镀金或铑
套管：磷铜镀金‘
钻孔尺寸：0.90mm
额定电流：3安培
接触弹力：75g
订购热线：400-183-6682

2023-03-01 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP50-F.html

[P75探针系列]测试探针P75-LM2

产品名称：P75-LM2、PA75-LM2
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为1.02mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）:
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
针杆：铍铜或SK4镀金或铑
套管：磷铜镀金‘
钻孔尺寸：1.4mm
额定电流：3安培
接触电阻：50毫欧姆
接触弹力：100g
订购热线：400-183-6682

2022-03-09 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP75-LM2.html

[BGA双头探针]双头探针058-UJ-5.7L

产品型号：058-UJ-5.7L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头及圆头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针058-UB-5.7L

产品型号：058-UB-5.7L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头及尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针058-JU-5.7L

产品型号：058-JU-5.7L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头及圆头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针058-JB-5.7L

产品型号：058-JB-5.7L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆 头及尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针058-BU-8.8L

产品型号：058-BU-8.8L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为8.8mm、针的两端的头型为爪头及尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针058-BU-6.3L

产品型号：058-BU-6.3L
产品头型：探针外径为0.58mm，总长度为6.3mm、针的两端的头型为Z爪头及尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-31 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen058-.html

[BGA双头探针]双头探针038-JB-5.7L

产品型号：038-JB-5.7L
产品头型：探针外径为0.38mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头及尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-29 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA双头探针]双头探针 038-BB-5.7L

产品型号：038-BB-5.7L
产品头型：探针外径为0.38mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为尖头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-29 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen038-.html

[BGA双头探针]双头探针 031-UU-5.7L

产品型号：031-UU-5.7L
产品头型：探针外径为0.31mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-29 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA双头探针]双头探针031-JJ-5.7L

产品型号：031-JJ-5.7L
产品头型：探针外径为0.31mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为圆头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-28 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA双头探针]双头探针031-BU-5.7L

产品型号：031-BU-5.7L
产品头型：探针外径为0.31mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
所属分类：双头探针
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-28 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[BGA双头探针]双头探针031-BF-5.7L

产品型号：031-BF-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.31mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为 尖头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要应用行业：手机、电脑、通信等。只要有芯片的行业几乎都被推行使用半导体测试探针进行测试，主要需求量最大的需属芯片封装测试行业。
产品介绍：针轴两端采用高碳钢的材质，防止使用的过程中针头容易断头或弯曲；针的测试间距为0.40mm,使用的寿命可达200K左右

2019-05-28 http://www.szhrh.com/Products/shuangtoutanzhen031-.html

[P50探针系列]测试探针P50-E

产品名称：P50-E、PA50-E
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径为0.68mm，顶针总长为16.55mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）:
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
针杆：铍铜或SK4镀金或铑
套管：磷铜镀金‘
钻孔尺寸：0.90mm
额定电流：3安培
接触弹力：75g
订购热线：400-183-6682

2019-03-29 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP50-E.html

[P50探针系列]测试探针P50-B

产品名称：P50-B、PA50-B
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径为0.68mm ，总长度为16.55mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）:
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
针杆：铍铜或SK4镀金或铑
套管：磷铜镀金‘
钻孔尺寸：0.90mm
额定电流：3安培
接触弹力：75g
订购热线：400-183-6682

2019-03-29 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP50-B.html

[P50探针系列]测试探针P50-A

产品名称：P50-A、PA50-A....
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）:
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
针杆：铍铜或SK4镀金或铑
套管：磷铜镀金‘
钻孔尺寸：0.90mm
额定电流：3安培
接触弹力：75g
订购热线：400-183-6682

2019-03-29 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP50-A.html

[P11探针系列]测试探针P11-Q2

产品名称：PA11-Q2、P11-Q2、
所属分类：测试探针
产品简介：大四爪头探针、测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、镀金探针、ICT测试针、测试架探针
订购热线：400-183-6682
产品介绍（产品概述）
针管:磷铜管镀金
弹簧：不锈钢线
套管：黄铜管镀金
钻孔尺寸：1.40mm
额定电流：3安培
接触电阻：50毫欧姆
接触弹力：120g

2019-03-08 http://www.szhrh.com/Products/ceshitanzhenP11-Q2.html